UL 1642
▍Unsa ang Sertipikasyon sa PSE?
Ang PSE (Product Safety of Electrical Appliance & Material) usa ka mandatoryong sistema sa sertipikasyon sa Japan. Gitawag usab kini nga 'Pagsunod sa Inspeksyon' diin kini usa ka mandatory nga sistema sa pag-access sa merkado alang sa mga gamit sa kuryente. Ang sertipikasyon sa PSE gilangkuban sa duha ka bahin: EMC ug kaluwasan sa produkto ug kini usa usab ka hinungdanon nga regulasyon sa balaod sa kaluwasan sa Japan alang sa mga gamit sa kuryente.
▍Certification Standard alang sa lithium batteries
Interpretasyon para sa METI Ordinance para sa Teknikal nga mga Kinahanglanon(H25.07.01), Appendix 9，Lithium ion secondary batteries
▍Nganong MCM?
● Kwalipikado nga mga pasilidad: Ang MCM nasangkapan sa mga kwalipikado nga mga pasilidad nga mahimong hangtod sa tibuuk nga mga sumbanan sa pagsulay sa PSE ug pagpahigayon mga pagsulay lakip na ang pinugos nga internal nga short circuit ug uban pa. Nagtugot kini kanamo nga makahatag lainlain nga gipahiangay nga mga taho sa pagsulay sa format sa JET, TUVRH, ug MCM etc. .
● Teknikal nga suporta: Ang MCM adunay usa ka propesyonal nga grupo sa 11 ka teknikal nga mga inhenyero nga espesyalista sa mga sumbanan ug mga regulasyon sa pagsulay sa PSE, ug makahimo sa pagtanyag sa pinakabag-o nga mga regulasyon ug balita sa PSE ngadto sa mga kliyente sa tukma, komprehensibo ug dali nga paagi.
● Diversified nga serbisyo: MCM mahimong mag-isyu ug mga report sa English o Japanese aron matubag ang panginahanglan sa mga kliyente. Sa pagkakaron, nakompleto na sa MCM ang kapin sa 5000 ka proyekto sa PSE para sa mga kliyente sa kinatibuk-an.
Usa ka bag-ong bersyon saUL 1642gibuhian. Usa ka alternatibo sa bug-at nga mga pagsulay sa epekto gidugang alang sa mga selula sa pouch. Ang piho nga mga kinahanglanon mao ang: Alang sa pouch cell nga adunay kapasidad nga labaw pa sa 300 mAh, kung wala mapasar ang bug-at nga epekto nga pagsulay, mahimo silang ipailalom sa Seksyon 14A nga round rod extrusion test. Ang pouch cell walay gahi nga kaso, nga sagad mosangpot sa cell rupture, tap fracture, debris nga naglupad pagawas ug uban pang seryoso nga kadaot nga gipahinabo sa kapakyasan sa bug-at nga epekto sa pagsulay, ug imposible nga makit-an ang internal nga short circuit tungod sa depekto sa disenyo o depekto sa proseso. Uban sa round rod crush test, ang posible nga mga depekto sa cell mahimong mamatikdan nga dili makadaot sa cell structure. Ang rebisyon gihimo uban niini nga sitwasyon sa konsiderasyon.Pagbutang og sample sa patag nga nawong. Ibutang ang usa ka lingin nga steel rod nga adunay diyametro nga 25±1mm sa ibabaw sa sample. Ang ngilit sa sungkod kinahanglang ipahiangay sa ibabaw nga ngilit sa selula, nga ang bertikal nga axis nga patindog sa tab (FIG. 1). Ang gitas-on sa sungkod kinahanglan nga labing menos 5mm mas lapad kaysa matag ngilit sa pagsulay nga sample. Alang sa mga selula nga adunay positibo ug negatibo nga mga tab sa magkaatbang nga mga kilid, ang matag kilid sa tab kinahanglan nga sulayan. Ang matag kilid sa tab kinahanglan nga sulayan sa lain-laing mga sample.Ang pagsukod sa gibag-on (tolerance ± 0.1mm) alang sa mga selyula ipahigayon sa dili pa ang pagsulay subay sa Appendix A sa IEC 61960-3 (Secondary cells ug mga baterya nga adunay alkaline o uban pang dili- acidic electrolytes - Portable secondary lithium cells ug baterya - Bahin 3: Prismatic ug cylindrical lithium secondary cells ug baterya)
